1064nm પરિપત્ર ટોપ-હેટ બીમ શેપિંગ DOE | ઇન્ફ્રારેડ (IR) લેસર માટે Φ50µm ફ્લેટ-ટોપ સ્પોટ
1064nm પરિપત્ર ટોપ-હેટ બીમ શેપિંગ DOE | ઇન્ફ્રારેડ (IR) લેસર માટે Φ50µm ફ્લેટ-ટોપ સ્પોટ
હસ્તક્ષેપ અસરો દ્વારા પસંદ કરેલા પ્લેન (સામાન્ય રીતે અનંત અથવા લેન્સ ફોકલ પ્લેન પર સ્થિત) પર ચોક્કસ પ્રકાશ તીવ્રતા વિતરણ ઉત્પન્ન થાય છે. વિવર્તન ક્રમ અને ઑબ્જેક્ટ અંતરનું એન્જિનિયરિંગ કરીને આ શક્ય બને છે. અંતર્ગત પદ્ધતિ DOE ની સૂક્ષ્મ-સંરચિત સપાટીથી શરૂ થાય છે, જે લેસર બીમના પ્રસારિત તબક્કામાં ફેરફાર કરે છે, ત્યાંથી ઘટના તરંગફ્રન્ટ પર તબક્કા મોડ્યુલેશન લાગુ કરે છે અને તેને બહુવિધ ક્રમમાં વિખેરી નાખે છે.
Φ25.4 મીમી બાહ્ય વ્યાસ (1‑ઇંચ) અને Φ12 મીમી સ્પષ્ટ છિદ્ર ધરાવતું, આ ઉચ્ચ-પ્રદર્શન DOE ફેરફાર વિના પ્રમાણભૂત ઓપ્ટોમિકેનિકલ માઉન્ટ્સને ફિટ કરવા માટે રચાયેલ છે. જ્યારે 532 nm લીલા લેસરો સાથે ઉપયોગમાં લેવાય છે, ત્યારે તે કાચા ગૌસીયન બીમને તીક્ષ્ણ ધાર, સમાન ઇરેડિયન્સ અને ન્યૂનતમ તીવ્રતા સ્પાઇક્સ દ્વારા ચિહ્નિત Φ60 µm ફ્લેટ-ટોપ વર્તુળમાં ફરીથી આકાર આપે છે.
૧૬-સ્તરની સપાટીનું માળખું ૯૦% થી વધુની કુલ વિવર્તન કાર્યક્ષમતા અને ૯૦% થી વધુ RMS ની એકરૂપતા પ્રદાન કરે છે, જે તેને પાતળા ફિલ્મો, માઇક્રોમશીનિંગ અને તબીબી ઉપકરણ ઉત્પાદનની ચોકસાઇ પ્રક્રિયા માટે યોગ્ય બનાવે છે.
તમારો સંદેશ અહીં લખો અને અમને મોકલો.
ઉત્પાદન શ્રેણીઓ
તરંગલંબાઇ 20 વર્ષથી ઉચ્ચ ચોકસાઇવાળા ઓપ્ટિકલ ઉત્પાદનો પ્રદાન કરવા પર ધ્યાન કેન્દ્રિત કરી રહી છે.
