તરંગલંબાઇ UV 355nm લેસર 254mm FL F-થીટા સ્કેન લેન્સ

યુવી 355nm લેસર 254mm FL F-થીટા સ્કેન લેન્સ

355nm F-થીટા સ્કેન લેન્સનો ઉપયોગ સામાન્ય રીતે લેસર માર્કિંગ માટે ગેલ્વેનોમીટર સ્કેનિંગ સિસ્ટમમાં થાય છે; સ્કેનિંગ ક્ષેત્રની અંદર ઘણા બિંદુઓ પર ફોકસ્ડ સ્પોટ પહોંચાડવાની ક્ષમતા સાથે. અમે વિશ્વના મુખ્ય સ્કેન હેડ પ્રદાતાઓ માટે લેન્સ એડેપ્ટર પણ સપ્લાય કરીએ છીએ.

આ યુવી એફ-થીટા સ્કેન લેન્સનો ઉપયોગ સામાન્ય રીતે ગેલ્વેનોમીટર સ્કેનિંગ સિસ્ટમમાં થાય છે:

• યુવી લેસર માર્કિંગ અને કોતરણી
• ઉચ્ચ-ચોકસાઇવાળા માઇક્રોમશીનિંગ
• પીસીબી અને સેમિકન્ડક્ટર પ્રોસેસિંગ
• કાચ અને પ્લાસ્ટિક માર્કિંગ
• ફાઇન ફીચર કટીંગ

યુવી એફ-થીટા સ્કેન લેન્સ સ્કેનિંગ ક્ષેત્રની અંદર ઘણા બધા બિંદુઓ પર ઓછામાં ઓછા વિકૃતિ સાથે કેન્દ્રિત સ્થાન પહોંચાડે છે. વેવલન્થ ઓપ્ટો-ઇલેક્ટ્રોનિક વિશ્વભરના મુખ્ય સ્કેન હેડ પ્રદાતાઓ માટે લેન્સ એડેપ્ટર પણ પૂરા પાડે છે, જે પ્રમાણભૂત ગેલ્વેનોમીટર સિસ્ટમ્સ સાથે સુસંગતતા સુનિશ્ચિત કરે છે.