ટ્રિપલ વેવલેન્થ એક્રોમેટિક એફ-થીટા લેન્સ

ઉત્પાદન ભલામણ | ટ્રિપલ વેવલેન્થ એક્રોમેટિક એફ-થીટા લેન્સ

સ્ટાન્ડર્ડ લેસર સ્કેન લેન્સ સામાન્ય રીતે એક જ તરંગલંબાઇ માટે ડિઝાઇન કરવામાં આવે છે - અલગ લેસર પર સ્વિચ કરવાથી ફોકલ શિફ્ટ, ઝાંખી જગ્યાઓ અને ઝાંખી નિશાની થાય છે. ડ્યુઅલ-બેન્ડ સ્કેન લેન્સ ફક્ત બે તરંગલંબાઇ વચ્ચે રંગીન વિકૃતિને સુધારી શકે છે.

3-તરંગલંબાઇ એક્રોમેટિક સ્કેન લેન્સ એક વિશિષ્ટ સ્કેનિંગ ફોકસિંગ લેન્સ છે જે એકસાથે ત્રણ અલગ લેસર તરંગલંબાઇ માટે રંગીન વિકૃતિને દૂર કરે છે. ત્રણેય તરંગલંબાઇ સમાન ઓપ્ટિકલ સેટ શેર કરે છે; પ્રક્રિયાઓ વચ્ચે સ્વિચ કરવા માટે ફક્ત લેસર સ્ત્રોત બદલવાની જરૂર પડે છે, લેન્સને ડિસએસેમ્બલ કરવાની અથવા ફરીથી ફોકસ કરવાની જરૂર નથી. આ તેને મલ્ટી-પ્રોસેસ કમ્પોઝિટ પ્રોસેસિંગ સિસ્ટમ્સ માટે આદર્શ બનાવે છે.

સૌથી સામાન્ય ઔદ્યોગિક તરંગલંબાઇ સંયોજન: 355 nm (UV), 532 nm (લીલો), અને 1064 nm (IR).

કોર ઓપ્ટિકલ પર્ફોર્મન્સ ફાયદા

૧. સુસંગત સ્પોટ ગુણવત્તા સાથે પરફોકલ થ્રી-વેવલન્થ એલાઇનમેન્ટ

૩૫૫/૫૩૨/૧૦૬૪ nm (અથવા કસ્ટમ RGB, UV-VIS-SWIR બેન્ડ સંયોજનો) માટે એક સાથે રંગીન વિકૃતિ સુધારણા. ત્રણેય તરંગલંબાઇના ફોકલ પ્લેન એકરૂપ થાય છે, જે સમગ્ર સ્કેનીંગ ક્ષેત્રમાં સુસંગત સ્પોટ ગોળાકારતા સુનિશ્ચિત કરે છે, જેમાં કોઈ અક્ષીય ડિફોકસ અથવા ધાર રંગીન વિકૃતિ નથી.

2. ન્યૂનતમ પોઝિશનિંગ ભૂલ સાથે સંયુક્ત પ્રક્રિયા માટે ઉચ્ચ ચોકસાઇ

રંગીન વિકૃતિ ઉપરાંત, ક્ષેત્ર વક્રતા, વિકૃતિ, ગોળાકાર વિકૃતિ અને કોમા પણ ઑપ્ટિમાઇઝ કરવામાં આવે છે. ઉચ્ચ રેખીય f-થીટા સ્કેનીંગ ચોકસાઈ ચોક્કસ વર્કપીસ આવશ્યકતાઓના આધારે તરંગલંબાઇ પસંદગીને સક્ષમ કરે છે. ભાગોની બહુ-તરંગલંબાઇ સંયુક્ત પ્રક્રિયા એકંદર પ્રક્રિયા ચોકસાઇમાં નોંધપાત્ર સુધારો કરે છે.

૩. ઓછી ક્ષેત્ર વક્રતા અને ઉત્તમ પૂર્ણ-ક્ષેત્ર સ્થળ એકરૂપતા

એપ્લિકેશન દૃશ્યો

ફોટોરેઝિસ્ટ જેવા કાર્બનિક પદાર્થોને દૂર કરવા માટે 343 nm; પેસિવેશન સ્તરોમાંથી ધાતુ અથવા પોલિસિલિકોન દૂર કરવા માટે 515 nm; અને પેસિવેશન સ્તરોમાંથી ITO દૂર કરવા માટે 1030 nm. પેનલ ડિસ્પ્લે રિપેર અને નિરીક્ષણ એપ્લિકેશનો માટે આદર્શ.

ઉત્પાદન પરિમાણો：

વાસ્તવિક જરૂરિયાતો અનુસાર કસ્ટમાઇઝ્ડ ડિઝાઇન ઉપલબ્ધ છે.